|
Ön Koşul
|
-
|
|
Ders Dili
|
Türkçe
|
|
Dersin Sorumlusu
|
Doç. Dr. Olcay GENÇYILMAZ
|
|
Dersi Verenler
|
-
|
|
Ders Yardımcıları
|
Fizik Bölümü Araştırma Görevlileri
|
|
Kaynaklar
|
K1. Lamberti, C., & Agostini, G. (2013). Characterization Semiconductors and Heterostructures and Nanostructures. (2th ed.). Elsevier Science & Technology, New York.
K2. Günther, B., & Wolfgan, R. (1996). Optical Characterization of Epitaxial Semiconductor Layers. (1th ed.). Spinger, Berlin.
K3. Voigtländer, B. (2015). Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling. (1th ed.). Spinger, London.
K4. Stroscio, J. A., & William, J. K. (1993). Scanning Tunneling Microscopy. (1th ed.). Academic Press, London.
K5. Heide van der, P. (2012). X-ray Photoelectron Spectroscopy: An introduction to Principles and Practices. (1th ed.). John Wiley & Sons, New Jersey.
K6. Perkampus, H. H. (1992). UV-VIS Spectroscopy and Its Applications. (1th ed.). Springer, Berlin.
K7. Smith, B. C. (2000). Fundamentals of Fourier Transform Infrared Spectroscopy. (2th ed.). CRC Press, London.
|
|
Yardımcı Kitap
|
K1.Aydoğan,Ş. (2015). Katıhal Elektroniği. (1. Baskı). Nobel Yayınevi, Türkiye.
K2. Schroder, D. K. (2006). Semiconductor Material and Device Characterization. (3th ed.).John Wiley & Sons, Canada.
K3. Ders Sunumları.
|
|
Dersin Amacı
|
Yarıiletken ince filmlerin analiz tekniklerini öğrenmektir.
|
|
Dersin İçeriği
|
İnce Film ve Büyütme Teknikleri, X-Işını Kırınımı (XRD), Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM),, Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), Tarama Tünelleme Mikroskobu (STM), Hall Etkisi Ölçümü, Akım-Gerilim (I-V) Ölçümü, Kapisitans-Gerilim (C-V) Ölçümü, Fotolimünesans (PL), Raman Spektroskopisi, Spektroskopik Elipsometri (SE), X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS),Fourier Dönüşümlü Kızılötesi (FTIR) Spektroskopisi
|