|
Hafta
|
Konular
|
Ön Hazırlık
|
|
1
|
İnce Film Yapısı ve Karakterizasyon Teknikleri
|
K1- Bölüm-1
|
|
2
|
X-Işını Kırınımı (XRD)
|
K1-Bölüm-3
|
|
3
|
UV-vis Spektrofotomere
|
K6-Bölüm-2
|
|
4
|
Taramalı Elektron Mikroskopu (SEM)
|
K1-Bölüm-10
|
|
5
|
Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM)
|
K3-Bölüm-1
|
|
6
|
Tarama Tünelleme Mikroskobu (STM)
|
K4-Bölüm-1
|
|
7
|
Hall Etkisi Ölçümü
|
K1-Bölüm-15
|
|
8
|
Akım-Gerilim (I-V) Ölçümleri
|
K1-Bölüm15
|
|
9
|
Fotolimünesans (PL)
|
K1-Bölüm-12
|
|
10
|
Raman Spektroskopisi
|
K2-Bölüm-4
|
|
11
|
Spektroskopik Elipsometri (SE)
|
K2-Bölüm-3
|
|
12
|
X-Işını Fotoelektron Spektroskopisi (XPS)
|
K5-Bölüm-1
|
|
13
|
Fundamentals of Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FITIR)
|
K7-Bölüm-1
|
|
14
|
Kapatisans-Gerilim (C-V) Ölçümleri
|
K1-Bölüm15
|