|
Kaynaklar
|
K1. Chung, F. H. Smith,D. K. Dekker, M. (1998). Industrial Applications of X-ray Diffraction
K2. Cullity, B. D. Stock, S. R. Hall, P. (2001), ISBN-10 0201610914. Elements of X-Ray Diffraction
|
|
Dersin İçeriği
|
Kristallerin geometrisi, X-ışınlarının özellikleri, kristallerde kırınım. X-Işınları ile incelenebilecek endüstriyel malzemeler. X-Işınları ile ilgili temel bilgiler, endüstriyel amaçlı farklı kullanım alanları (sağlık, biyoteknoloji, kimyasal malzemeler, litografi, mikroelektronik, enerji, çevre). X-Işını tek kristal yöntemi (XRD). X-Işını toz kırınımı (XRPD). X-Işını flouresans analizi (XRF). X-Işını Saçılması (SAXS, WAXS, GISAXS). X-Işını litografi yöntemi. X-Işınlarının soğurulması (XANES, EXAFS). X-Işını topografi yöntemi anlatılacaktır. Farklı yöntemlerde örnek hazırlama, veri toplama, veri değerlendirme aşamaları uygulamalı olarak incelenecektir.
|