|
Hafta
|
Konular
|
Ön Hazırlık
|
|
1
|
Malzeme karakterizasyon yöntemleri hakkında genel bilgi
|
K1-Bölüm-1 (Sayfa:1-23)
|
|
2
|
Analiz yöntemi seçilirken dikkat edilmesi gereken hususlar
|
K1-Bölüm-1 (Sayfa:23-55)
|
|
3
|
Optik mikroskop ile mikroyapı analizi için numune hazırlama
|
K1-Bölüm-3 (Sayfa:123-148)
|
|
4
|
Optik mikroskop ile mikroyapı analizi
|
K1-Bölüm-3 (Sayfa:149-166)
|
|
5
|
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) cihazında mikroyapı ve morfolojik inceleme
|
K1-Bölüm-4 (Sayfa:177-186)
|
|
6
|
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) cihazında elementel analiz
|
K1-Bölüm-4 (Sayfa:186-200)
|
|
7
|
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) örnek analiz sonuçlarının yorumlanması
|
K1-Bölüm-4 (Sayfa:200-220)
|
|
8
|
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) örnek analiz sonuçlarının yorumlanması
|
K1-Bölüm-4 (Sayfa:220-248)
|
|
9
|
X-Işını Difraktometre (X-ray) cihazının çalışma mekanizması
|
K1-Bölüm-2 (Sayfa:59-80)
|
|
10
|
X-Işını Difraktometre cihazı ile faz analizi ve yorumlanması
|
K1-Bölüm-2 (Sayfa:80-120)
|
|
11
|
Diferansiyel Termal Analiz yöntemi ve ekipmanı
|
K1-Bölüm-9 (Sayfa:500-530)
|
|
12
|
Diferansiyel Termal Analiz sonuçlarının yorumlanması
|
K1-Bölüm-9 (Sayfa:530-560)
|
|
13
|
Termal Gravimetrik Analiz yöntemi
|
K1-Bölüm-6 (Sayfa:315-325)
|
|
14
|
Termal Gravimetrik Analiz sonuçlarının yorumlanması
|
K1-Bölüm-6 (Sayfa:325-335)
|