|
Hafta
|
Konular
|
Ön Hazırlık
|
|
1
|
X-ışınları ile ilgili temel bilgiler ve kristallerin geometrisi
|
K2-Bölüm-2
|
|
2
|
X-ışınlarının özellikleri ve kristallerde kırınım
|
K1-Bölüm-1
|
|
3
|
X-ışınları ile incelenebilecek endüstriyel malzemeler
|
K1-Bölüm-2
|
|
4
|
X-ışınlarının endüstriyel amaçlı kullanım alanları
|
K1-Bölüm-2
|
|
5
|
X-ışını tek kristal kırınımı yöntemi (XRD) ve tek kristal örnek seçimi
|
YK1-Bölüm-1
|
|
6
|
X-ışını tek kristal kırınımı yönteminin uygulamaları
|
K2-Bölüm-4
|
|
7
|
X-ışını toz kırınımı yöntemi ve endüstriyel uygulamaları
|
K2-Bölüm-6
|
|
8
|
Toz kırınımı verisinden bilinmeyen örnek analizi, parçacık büyüklüğü hesabı ve miktar tayini
|
K2-Bölüm-6
|
|
9
|
X-ışını floresans analizi
|
K2-Bölüm-15
|
|
10
|
X-ışını saçılma yöntemleri (SAXS, WAXS, GISAXS)
|
YK1-Bölüm-1
|
|
11
|
X-ışını saçılma yönteminde, farklı örnek hazırlama yöntemleri ve farklı örnek tutucuların kullanımı
|
YK1-Bölüm-1
|
|
12
|
X-ışını litografi yöntemi ve endüstriyel amaçlı kullanımı
|
YK1-Bölüm-1
|
|
13
|
X-ışınlarının soğurulması (XANES, EXAFS yöntemleri)
|
K2-Bölüm-16
|
|
14
|
X-ışını topografi yöntemi ve endüstriyel amaçlı kullanımı
|
YK1-Bölüm-1
|
|
Ön Koşul
|
-
|
|
Ders Dili
|
Türkçe
|
|
Dersin Sorumlusu
|
Prof. Dr. Çiğdem YÜKSEKTEPE ATAOL
|
|
Dersi Verenler
|
-
|
|
Ders Yardımcıları
|
-
|
|
Kaynaklar
|
K1. Chung, F. H. Smith,D. K. Dekker, M. (1998). Industrial Applications of X-ray Diffraction
K2. Cullity, B. D. Stock, S. R. Hall, P. (2001), ISBN-10 0201610914. Elements of X-Ray Diffraction
|
|
Yardımcı Kitap
|
YK1. Ders Notları
|
|
Dersin Amacı
|
X-ışınlarının endüstriyel ve kristalografi alanlarındaki uygulamalarını öğretmek.
|
|
Dersin İçeriği
|
Kristallerin geometrisi, X-ışınlarının özellikleri, kristallerde kırınım. X-Işınları ile incelenebilecek endüstriyel malzemeler. X-Işınları ile ilgili temel bilgiler, endüstriyel amaçlı farklı kullanım alanları (sağlık, biyoteknoloji, kimyasal malzemeler, litografi, mikroelektronik, enerji, çevre). X-Işını tek kristal yöntemi (XRD). X-Işını toz kırınımı (XRPD). X-Işını flouresans analizi (XRF). X-Işını Saçılması (SAXS, WAXS, GISAXS). X-Işını litografi yöntemi. X-Işınlarının soğurulması (XANES, EXAFS). X-Işını topografi yöntemi anlatılacaktır. Farklı yöntemlerde örnek hazırlama, veri toplama, veri değerlendirme aşamaları uygulamalı olarak incelenecektir.
|
|
Program Yeterlilik Çıktıları |
Katkı Düzeyi |
|
1
|
Alanındaki güncel ve ileri düzeydeki bilgileri özgün düşünce ve araştırma ile uzmanlık düzeyinde geliştirme, derinleştirme ve bilime yenilik getirecek özgün tanımlara ulaşma
|
4
|
|
2
|
Fizik alanı ile ilgili disiplinler arası etkileşimi kavrama; yeni ve karmaşık fikirleri analiz, sentez ve değerlendirmede uzmanlık gerektiren bilgileri kullanarak özgün sonuçlara ulaşma
|
1
|
|
3
|
Fizik alanındaki yeni bilimsel bilgilere ulaşabilme ve alanıyla ilgili araştırma yöntemlerinde üst düzeyde beceri kazanabilme
|
3
|
|
4
|
Fizik alanında yeni bir bilimsel yöntem geliştirebilme ya da bilinen bir yöntemi farklı bir probleme uygulayabilme
|
1
|
|
5
|
Özgün bir konuyu araştırabilme, kavrayabilme, tasarlayabilme, uyarlayabilme ve uygulayabilme
|
-
|
|
6
|
Yeni ve karmaşık fikirleri sorgulama, sentezleme ve değerlendirmesini yapabilme
|
-
|
|
7
|
Yeni ve karmaşık fikirleri sorgulama, sentezleme ve değerlendirmesini yapabilme
|
-
|
|
8
|
Yaratıcı ve sorgulayıcı düşünme, sorun çözme ve karar verme gibi üst düzey zihinsel süreçleri kullanarak, alanı ile ilgili ve disiplinler arası özgün fikir ve yöntemler geliştirebilme
|
2
|
|
9
|
Uzman bir topluluk içinde özgün görüşlerini etkili bir şekilde sunabilme
|
-
|
|
10
|
En az bir yabancı dilde, ileri düzeyde yazılı, sözlü ve görsel iletişim kurabilme ve tartışabilme
|
1
|
|
11
|
Akademik ve profesyonel bağlamda teknolojik ilerlemeleri tanıtarak, bilgi toplumu olma sürecine katkıda bulunma
|
1
|